1. An introduction to logic circuit testing /
المؤلف: Parag K. Lala
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
2. Digital circuit testing and testability
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
3. Digital circuit testing and testability
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
4. Fault tolerant and fault testable hardware design
پدیدآورنده : Parag K. Lala
موضوع : Electronic digital computers- Reliability,Fault-tolerant computing
۴ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
5. Fault tolerant and fault testable hardware design
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Reliability ، Electronic digital computers,، Fault-Tolerant computing
رده :
TK
7888
.
3
.
L27
1985
6. Fault tolerant & fault testable hardware design
المؤلف: LALA,PARAG K
المکتبة: (طهران)
موضوع: ELECTRONIC DIGITAL COMPUTERS-RELIABILITY , FAULT-TOLERNT COMPUTING
رده :
TK
7888
.
3
.
L27
7. Principles of modern digital design
المؤلف: Lala, Parag K.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: ، Logic design,Design and construction ، Logic circuits,، Digital electronics
رده :
TK
7868
.
L6
L3486
2007
8. Principles of modern digital design
المؤلف: / Parag K. Lala
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Logic design,Logic circuit--Design and construction,Digital electronics
رده :
E-BOOK
9. Principles of modern digital design
المؤلف: / Parag K. Lala
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Logic design,Logic circuits- Design and construction,Digital electronics
رده :
TK7868
.
L6L3486
2007
10. Self-checking and fault-tolerant digital design
المؤلف: Lala, Parag K
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: Design and construction ، Electronic digital computers,، Fault-tolerant computing,، Logic design,، Sequential machine theory
رده :
TK
7888
.
3
.
L274
2001
11. Self-checking and fault-tolerant digital design
المؤلف: Lala, Parag K., 8491-
المکتبة: (طهران)
موضوع: Design and construction ، Electronic digital computers,، Fault-tolerant computing,، Logic design,، Sequential machine theory
رده :
TK
7888
.
3
.
L2
12. Stem cells of renewing cell populations :
المؤلف: edited by A. B. Cairnie, P. K. Lala, D. G. Osmond
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Leblond, C. P., (Charles Philippe),1910-,Cell differentiation, Congresses,Cell populations-- Congresses,Cell proliferation, Congresses,Stem cells-- Congresses,Cell Aggregation,Cell Differentiation,Cell Division,Hematopoietic Stem Cells
رده :
QH587
.
S73
13. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
المؤلف: / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - گردش و امانت آقايان (خراسان رضوی)
موضوع: مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
14. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
المؤلف: / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - گردش و امانت بانوان (خراسان رضوی)
موضوع: مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
15. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
المؤلف: / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
المکتبة: كتابخانه مركزي آستان قدس رضوي (ع) - تالار قفسه باز بانوان (خراسان رضوی)
موضوع: مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
